一種用于冷坩堝法制備氧化鎵單晶的坩堝設(shè)計(jì)和制備方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111361482.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN114108086A 公開(kāi)(公告)日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114108086A 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類號(hào) C30B29/16(2006.01)I;C30B1/10(2006.01)I;C30B33/02(2006.01)I 分類 晶體生長(zhǎng)〔3〕;
發(fā)明人 李培剛;王進(jìn)進(jìn);李龍;陳梅艷;嚴(yán)旭 申請(qǐng)(專利權(quán))人 北京鎵創(chuàng)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京化育知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 閆露露
地址 101322北京市順義區(qū)昌金路趙全營(yíng)段56號(hào)院1號(hào)樓3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于冷坩堝法制備氧化鎵單晶的坩堝設(shè)計(jì)和制備方法,冷坩堝由坩堝壁、緩沖層以及氧化鎵擠壓層構(gòu)成,其中所述緩沖層附在所述坩堝壁內(nèi)側(cè)和所述氧化鎵擠壓層外側(cè),所述坩堝壁的厚度大于所述氧化鎵擠壓層的厚度,所述緩沖層的厚度小于所述氧化鎵擠壓層的厚度。有益效果在于:本發(fā)明采用新型冷坩堝并借助冷坩堝法生長(zhǎng)氧化鎵單晶,有效避免了高溫熔體對(duì)坩堝的腐蝕,減少了坩堝對(duì)熔體的污染,同時(shí)不再需要使用銥金或鉑銠坩堝等貴金屬坩堝,極大地降低了制備氧化鎵單晶的坩堝成本,從而降低了制備氧化鎵單晶的的生產(chǎn)成本。