印刷電路板缺陷檢測(cè)分類方法、裝置及計(jì)算機(jī)儲(chǔ)存介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111453222.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN113870257B | 公開（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113870257B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-18 |
| 分類號(hào) | G06T7/00（2017.01）I;G06V10/26（2022.01）I;G06V10/75（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 王小平;曹萬;熊波;梁世豪 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 武漢飛恩微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 武漢天領(lǐng)眾智專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 楊建軍 |
| 地址 | 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新大道818號(hào)高科醫(yī)療器械園B區(qū)12號(hào)樓3層2號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提出了一種印刷電路板缺陷檢測(cè)分類方法、裝置及計(jì)算機(jī)儲(chǔ)存介質(zhì)，方法包括以下步驟：S1，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)圖像采用分水嶺算法對(duì)彩色圖像梯度進(jìn)行分割成若干圖像塊，并記錄圖像塊在標(biāo)準(zhǔn)圖像中的坐標(biāo)位置信息；S2，完成最終的彩色圖像分割；S3，對(duì)分割的每個(gè)彩色圖像塊在標(biāo)準(zhǔn)圖像上按照坐標(biāo)位置信息進(jìn)行填充；S4，獲取待測(cè)產(chǎn)品的圖像，適配標(biāo)準(zhǔn)模塊化圖像進(jìn)行匹配；S5，根據(jù)匹配的待測(cè)產(chǎn)品圖像與標(biāo)準(zhǔn)模塊化圖像進(jìn)行對(duì)比分析，得到缺陷差別點(diǎn)，進(jìn)而根據(jù)缺陷圖像塊的坐標(biāo)定位信息進(jìn)行分類。本發(fā)明可以自動(dòng)對(duì)及其視覺獲取的產(chǎn)品圖像進(jìn)行校正，并根據(jù)分割的圖像塊進(jìn)行缺陷檢測(cè)，進(jìn)而可以根據(jù)圖像塊的位置進(jìn)行對(duì)應(yīng)檢測(cè)，方便后期的分類、維修。 |
