一種閃存芯片可靠性檢測(cè)的檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010808124.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN114077509A 公開(kāi)（公告）日 2022-02-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN114077509A 申請(qǐng)公布日 2022-02-22
分類號(hào) G06F11/00（2006.01）I;G06F8/61（2018.01）I;G11C29/44（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 吳耀虎;黃衍軍;吳大畏;李曉強(qiáng);韓國(guó)軍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 得一微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技園南十二路18號(hào)長(zhǎng)虹科技大廈6樓09-2、10-11單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及一種閃存芯片可靠性檢測(cè)的檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置，屬于固態(tài)存儲(chǔ)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，其包括以下步驟：將閃存芯片安裝到測(cè)試架中；使用MPTool燒錄RDT代碼到閃存芯片中；將成功燒錄RDT代碼的閃存芯片連同測(cè)試架一起插到高溫箱中的供電接口上；給SATA供電接口通電，使得SATA芯片的BOOT從閃存芯片中加載RDT代碼到SATA芯片的RAM中；SATA芯片加載完成后開(kāi)始進(jìn)入RDT脫機(jī)掃描流程；SATA芯片對(duì)閃存芯片進(jìn)行掃描，找出閃存芯片中的壞塊并生成壞塊信息；SATA芯片通過(guò)分析壞塊信息來(lái)計(jì)算出閃存芯片的顆粒品質(zhì)并對(duì)閃存芯片顆粒品質(zhì)等級(jí)進(jìn)行劃分；SATA芯片通過(guò)驅(qū)動(dòng)提示單元提示對(duì)應(yīng)的閃存芯片顆粒品質(zhì)等級(jí)。本申請(qǐng)具有提高產(chǎn)品的生產(chǎn)效率的效果。